Anar al contingut

Interferómetro de punt de difracció

De L'Enciclopèdia, la wikipedia en valencià

Un interferómetro de punt de difracció[1][2][3] és un tipo d'interferómetro de trayecte comú. A diferència dels interferómetros de fes dividit, com el de Michelson, en el que se separen un fes de llum de referència i un atre de prova de la mateixa font, un interferómetro de trayecte comú genera el seu propi fes de referència.

El dispositiu és similar a un filtre òptic. La llum incident està enfocada a un element semitransparente (aproximadament 0.1% de transmissió). En el centre d'este filtre se situa un orifici sobre la mida del disc Airy, a on es concentra un fes de llum centrat en una lent transformadora de Fourier. El orde zero (les freqüències baixes en l'espai de Fourier) llavors passen a través de l'orifici i interferixen en el restant del fes. La transmissió i les dimensions de l'orifici estan dissenyades per a equilibrar les intensitat del fes de prova i del fes de referència. El dispositiu és similar en operació al microscopi de contrast de fase de Zernike.

Ya que el dispositiu és auto-referenciado, pot usar-se en entorns en moltes vibracions o quan no és possible dispondre d'un fes de referència, com en molts ensajos d'òptica adaptiva i en escenaris de llongitut d'ona curta.

S'han ideat versions que potencien el canvi de fase (vore Interferometría) per a aumentar la resolució i l'eficiència de les medicions. Açò inclou les reixetes de difracció de l'interferómetro de Kwon i el interferómetro de difracció de punt en canvi de fase.[4][5][6]

Les crítiques principals del disseny original són:

  • (1) Que la baixa transmissió reduïx la seua eficiència.
  • (2) Quan el fes de llum està massa aberrado, queda reduïda l'intensitat axial, per lo que hi ha menys llum en el fes de referència, en la consegüent pèrdua de contrast del patró d'interferència.


Estos problemes són en gran part solucionats en el disseny dels interferómetros de punt de difracció en canvi de fase, en els que una reixeta o un divisor de fes creguen idèntiques còpies múltiples del fes incident contra el filtre semitransparente. El fes de prova passa a través d'un orifici una miqueta major o una obertura en una membrana, sense pèrdues degudes a absorció; i el fes de referència és enfocat cap a l'orifici per a conseguir una transmissió més alta. En el cas basat en una reixeta, el canvi de fase es conseguix traslladant la reixeta perpendicularment al fes mentres múltiples imàgens són gravades.

Referències

[editar | editar còdic]
  1. C.R. Acad.Sci. URSS.5
    210.
  2. Japanese Journal of Applied Physics.14
    351–356.doi:10.7567/jjaps.14s1.351.Consultat el 29 de febrer de 2012.
  3. Journal of the Optical Society of America.62
    737.Consultat el 29 de febrer de 2012.
  4. Optics Letters.9(2)
    59.doi:10.1364/ol.9.000059.
  5. Optics Letters.21(19)
    1526–1528.doi:10.1364/OL.21.001526.
  6. Applied Optics.38(35)
    7252–7263.doi:10.1364/ao.38.007252.


Referències

[editar | editar còdic]