Interferometría de motejat

La interferometría de motejat (speckle pattern en anglés), consistix en l'anàlisis de patrons d'intensitat produïts per l'interferència mútua entre front d'ona coherents que són subjectes a diferències de fase o fluctuacions d'intensitat. Estos patrons constituïxen una valiosa font d'informació sobre la superfície allumenada. Distints eixemples de patrons Speckle es presenten quan s'allumena una superfície rugosa en un fes làser o quan l'image d'una estrela distant és observada a través de l'atmòsfera (Speckle Imaging). Ademés, en l'us d'estos sistemes és possible analisar, en un sol punt, deformacions o desplaçaments en la superfície d'una mostra tant en la direcció axial (modo out-plane) com en la direcció tangencial (modo in-plane).