Fluorescència de rajos X per energia dispersiva

Archiu:Caps block 0 of a poppy seed.jpg

Fluorescència de rajos X per energia dispersiva.

La fluorescència de rajos X per energia dispersiva (EDXRF) és una tècnica de mostreig versàtil, ràpida i no destructiva (en alguns casos en els que la penetració dels rajos X no fora suficient es requeririen corts o poliments, depenent també de l'uniformitat de la mostra) relativament nova, que reconeix un gran número d'elements químics (no composts químics) i presenta els resultats en temps real, permetent decidir la necessitat de mostreig adicional davant resultats analítics no concloents. Conseguix alcançar uns llímits de detecció de fins a 0.002% (20 ppm).

Principis físics

La tècnica EDXRF utilisa l'emissió secundària o fluorescent de radiació X que es genera en excitar una mostra en una font emissora de rajos X. La radiació X incident o primària expulsa electrons de capes interiors del àtom. Llavors, els electrons de capes més externes ocupen els llocs vacants, i l'excés energètic resultant d'esta transició es dissipa en forma de fotons: l'anomenada radiació X fluorescent o secundària. Esta radiació de fluorescència és característica per a cada element químic. Per lo tant, és possible identificar un element dins del espectre de la mostra si es coneix l'energia entre els orbitales atòmics implicats (llongitut d'ona). La concentració de cada element es detecta medint l'intensitat de l'energia associada a cada transició d'electrons. És dir, l'eixida d'un anàlisis EDXRF és un espectre que mostra l'intensitat de radiació en funció de l'energia.

Tipos de EDXRF

Existixen dos tipos de ED-XRF. L'equip de mà és ràpit i fàcil d'usar, no obstant no resulta tan precís com les màquines de banc. Abdós tipos presenten una série de llimitacions que deuen ser compreses clarament per l'analiste. Aixina mateix, requerixen seguir un procediment apropiat, essencial si es volen evitar sérios errors.