Caracterisació de materials
La caracterisació de materials, quan es parla de ciència de materials, fa referència al procés general i ampli pel qual l'estructura d'un material i les seues propietats són provades i mides. És un procés fonamental en el camp de la ciència de materials, sense el qual no es podria determinar un enteniment científic de l'ingenieria de materials.[1][2] L'alcanç del terme és a voltes distint; algunes definicions llimiten l'us del terme a les tècniques que estudien l'estructura microscòpica i les propietats dels materials,[2] mentres que unes atres usen el terme per a referir-se a qualsevol procés d'anàlisis de materials, incloent tècniques macroscòpiques tals com a proves de materials, anàlisis tèrmic i càlcul de densitat.[3] L'escala de les estructures observades en la caracterisació de materials va des dels ángstroms, com en l'image d'àtoms individuals i enllaços químics, fins a centímetros, com en l'image d'estructures de gra gros en els metals.
Encara que moltes tècniques de caracterisació s'han practicat per sigles, tals com la microscopía òptica bàsica, constantment emergixen noves tècniques i metodologia. En particular l'invenció del microscopi electrònic i la Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) en el XX han revolucionat el camp, ajudant-li a l'image i anàlisis d'estructures i composicions a escales molt més chicotetes de lo que abans era possible, duent a un increment important en el nivell de comprensió en perqué distints materials mostren distintes propietats i comportaments.[4] Més recentment, el microscopi de força atòmica ha incrementat encara més la resolució màxima possible per a l'anàlisis de certes mostres en els últims 30 anys.[5]
Existixen per a això distintes tècniques de caracterisació, d'acort a l'interés que desperte dit material. Una volta conegudes les característiques del material pot establir-se la naturalea del mateix, aixina com les seues possibles aplicacions.
Un eixemple d'això és la caracterisació de materials semiconductorés, la qual cosa és fonamental per a establir l'us posterior que pot donar-se-li als mateixos. Una atra aplicació molt útil és en l'anàlisis de càrregues tèrmiques, que forma part del procés de disseny d'instalacions d'Aire Acondicionat, en el qual es prenen en conte les propietats tèrmiques dels materials, tals com: Coeficient de conductivitat (Índex K), Transmitancia (Valor O), Resistència i Inèrcia tèrmiques.
Referències
[editar | editar còdic]- ↑ Materials characterization techniques, Boca Raton: CRC Press. ISBN 1420042947.
- ↑ 2,0 2,1 Leng, Yang. Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Wiley. ISBN 978-0-470-82299-9.
- ↑ Zhang, Sam (2008). Materials Characterization Techniques, CRC Press. ISBN 1420042947.
- ↑ Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, University of Basel: Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zoom Nanolabor, p. 8
- ↑ Patent US4724318 - Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution - Google Patents
Referències
[editar | editar còdic]
- Este artícul conté una traducció derivada de «Caracterización de materiales» de Wikipedia en castellà publicada baix la Llicència de documentació lliure de GNU i la Llicència Creative Commons Reconeiximent-CompartirIgual 4.0 Internacional.